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Patterns: Muster in Design, Kunst und Architektur
By Ralf Wollheim (editor), Petra Schmidt (editor) and Annette Tietenberg (editor)
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Bibliographic Detail
Publisher Birkhauser Architecture
Publication date October 1, 2007
Pages 332
Binding Paperback
Book category Adult Non-Fiction
ISBN-13 9783764377496
ISBN-10 3764377496
Dimensions 1 by 9.50 by 11.50 in.
Weight 4.15 lbs.
Original list price $62.95
Summaries and Reviews
Amazon.com description: Product Description:

Von wegen, weniger ist mehr. Endlich haben Designer, Künstler und Architekten die suggestive Wirkung von Mustern wiederentdeckt. Sie huldigen nun dem einst zum Überflüssigen degradierten Dekor, indem sie Lampen, Stühle oder ganze Räume mit Streifen, Punkten oder Tarnmustern überziehen. Viele interpretieren, wie die in Rotterdam ansässigen Gestalter Jurgen Bey und Hella Jongerius, traditionsreiche Motive neu. Das Buch stellt gattungsübergreifend verschiedene Zugriffe auf Muster vor und zeigt, welche Funktionen Dekore übernehmen können. Anhand von aktuellen Beispielen werden die vielfältigen Farben, Formen und Anwendungen vor den Augen der Leser ausgebreitet. Dabei wird sichtbar, dass das Muster den gegenwärtigen technischen Möglichkeiten entspricht und den heutigen Wahrnehmungsbedingungen entgegenkommt. Die Arbeiten von international renommierten Gestaltern wie Tord Boontje, Michael Lin, Olaf Nicolai und Sauerbruch & Hutton werden in alphabethischer Reihenfolge vorgestellt.



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Paperback
Book cover for 9783764377496
 
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from Birkhauser Architecture (October 1, 2007)
9783764377496 | details & prices | 332 pages | 9.50 × 11.50 × 1.00 in. | 4.15 lbs | List price $62.95
About: Von wegen, weniger ist mehr.

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